Дефектоскоп на фазированных решетках GEKKO
Дефектоскоп на фазированных решетках GEKKO
Прибор, обладающий уникальными функциями:
- Предустановленный полный функционал ПО с бесплатным обновлением
- 64 независимых канала
- Корректная работа с ПЭП сторонних производителей
- Возможность подключения блоков мультиплексирования от 128 до 1024 каналов
- Метод абсолютной фокусировки (TFM)
- Инновационный прибор, объединивший передовые технологии в УЗК
Построение изображения в режиме В-скан
Секторное и линейное сканирование
Датчики на фазированной решетке (ФАР) состоят из множества пьезоэлектрических элементов, которые могут активироваться последовательно или с задержкой по времени. Акустические поля от нескольких элементов накладываются друг на друга (формируется так называемый виртуальный датчик). Таким образом полученное акустическое поле можно перемещать (линейное сканирование) или вращать его (секторное сканирование). Прибор позволяет генерировать как продольные, так и поперечные волны, а также поверхностные и головные. Электронная фокусировка акустического поля на заданной глубине или диапазоне глубин позволяет воспроизводить результаты В-сканирования (поперечное сечение перпендикулярно поверхности) с высоким разрешением.
Метод абсолютной фокусировки (TFM)
Метод абсолютной фокусировки является уникальной функцией и сравним с выборочным методом ФАР. Этот метод предусматривает взаимодействие всех элементов решетки и всех импульсов в конкретной области сканирования. В результате чего, если применяется датчик ФАР с 64 элементами, формируется В-скан с очень широким пространственным разрешением в пределах одной длины волны. В секунду возможно получение до 25 кадров, что обеспечивает изображение в реальном времени.
Размер дефектов определяется при помощи курсоров. В примере показан В-скан ряда боковых отверстий диаметром 1.5м м по методу TFM. В результате сканирования диаметр отверстий определен верно.
Трехмерная визуализация звукового поля (3D-Томография)
Путем механического перемещения линейного датчика ФАР формируется множество отображений В-сканов, что обеспечивает получение трехмерных данных. Эти данные могут быть визуализированы в так называемом С-скане (вид сверху исследуемого объекта). Передвигая вертикальный курсор в С-скане, можно выбрать соответствующий В-скан. В В-скане для выбора соответствующего А-скана используется вертикальный курсор.
